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赋能国家半导体智造

ADS智能排程系统
ADS(Advance Dispatch Scheduling System)—预测排程派工系统,具备算力、算法的优势,拥有丰富的大数据处理经验,可以配合工厂的需求提供客制化的排程派工系统

解决的问题

预防FAB内跨站点的Q-time超时
最大化产能利用率,通过算法预测和分配lot。

我们的优势

算法成熟且通过验证;
成熟大厂的know-how经验输出。
RTD实时派工系统
RTD(Real Time Dispatch):实时派工系统, 是一种实时的、高性能的派工解决方案,能通过“what‘s next”,“where next”的规则来分配WIP, 实现设备的负载平衡。

解决的问题

设备负载平衡
实时搬送、预约搬送
设备模板一键式配置
派货规则灵活调用

我们的优势

通过设备模板一键式配置,高效、精准、最优化派工
规则灵活,模板化派送规则
拥有泛半导体领域多行业的落地案例
MES制造执行系统

MES(Manufacturing Execution System):制造执行系统,通过流程控制管理产品整个生产过程,实现全流程信息追溯。

解决的问题

生产工艺复杂

良率影响因素复杂

设备控制复杂

智能化程度要求高

生产控制精度要求高

产能瓶颈优化难

材料耗用复杂

管理权限维度多

我们的优势

采用分布式架构,稳定性好

支持晶圆级追溯

支持X86 Server,支持Linux/Windows,硬件配置要求宽松,易于维护

支持跨平台应用(如PDA应用)

源于成熟大厂的行业know-how

源于全自动化工厂设计,适应工厂升级改造

具备更优的防病毒策略、轻量化IT维护

EAP设备自动化系统
EAP(Equipment Automation Program):设备自动化系统,实现设备数据自动采集与设备自动控制。系统支持SECS/GEM、HSMS、OPCUA、Modbus等主流通讯协议。

解决的问题

产品自动出入账
设备运行参数及状态的管理
帮助实现生产过程中特殊事件及场景的信息流转

我们的优势

自研对接协议无第三方收费
PLC级的对接集控
万级的设备数量对接
SECS/GEM全模块支撑
特殊集控的客制化实施
半导体6/8/12对接实施经验
千级的设备类型对接
对接设备厂商:LAM、AMAT、TEL、DNS、KLA-Tencor等
RMS配方管理系统

RMS(Recipe Management System)—配方管理系统,通过平台管控实现recipe的集中式管理,并通过流程签核发布生效,实现Recipe ID, Body, Version等多维度管控。

解决的问题

配方的生效和发布管理

实现配方自动上传下载,参数实时监控,配方信息自动比对

Golden Recipe的形成及管理

我们的优势

配方创建和设定通过复制黄金配方实现,防止人员设定出现错误

设备每次生产之前会对比设备和系统端配方,一致后方可开始生产

同群组的设备配方都是通过同一黄金配方复制得到,配方一致性好,易于管控

配方审核流程需要制程、工艺、良率等多部门签核,共同把关配方变更

SPC统计过程控制系统
SPC(Statistical Process Control):统计过程控制系统,通过数理统计方法对生产数据进行管控,保障生产过程稳定,达到提高产品质量的目的。

我们的产品

SPC(Statistical Process Control)基于BS架构的统计过程控制系统
·借助数理统计(正态分布)方法进行过程控制的工具,通过分析过程数据发现异常征兆并通过措施消除影响,达到优化制程、管控质量目的
支持计数类型和计量类型SPC管制图
可以对异常采取措施如发送报警邮件、Hold Lot、Hold设备等

解决的问题

确定过程的统计控制界限,判断过程是否失控和过程是否有能力
提供报警系统,及时监控过程的情况以防止废品的产生与流动
减少对常规检验的依赖性,定时的观察以及系统的测量方法替代了大量的检测和验证工作
降低报废率、提高生产效率、减少返工、降低成本

我们的优势

大数据架构,相对于传统SPC支持海量数据上报、分析、处理
支持每张管制图小于十万个点的展示
支持每天百万级数据量上报
千万级别的CPK月报计算
YMS良率管理分析系统

解决的问题

帮助企业管理人员自动监控良率&品质、高效分析良率和异常,为品质改善提供保障
依托大数据计算平台,使用多种数据分析方程进行数据挖掘和统计分析,通过在线分析方式提高处理和反馈效率,从若干小时到分钟级,帮助用户快速定位问题和决策参考
通过与MES系统和EAP系统(连接生产设备)的集成,实时管控产品良率
沉淀产品品质数据和分析模型,帮助企业积累品质管理模型和知识库

我们的优势

大数据架构—GP:海量数据的存储,查询能力;Spark:海量数据的运算能力(分布式运算,内存中做join)
自助可视化拖拽方式建立分析流程和模型
内置多个开箱即用的检验、分析、回归等统计分析模型(基于R语言)
提供CP Wafer mapping图和叠图分析,更直观的展示分析结果数据
基于网页访问,不受客户端平台和用户数量限制
支持半导体测试标准STDF和CSV等多种文件格式的数据源
支持与半导体测试机的实时监控分析,支持与MES系统集成
YMS(Yield Management System):良率管理分析系统,是一种通过可视化拖拽方式建立分析流程和模型, 多图表展示分析结果的良率分析工具,内置多个开箱即用的检验、分析、回归等统计分析模型
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DMS缺陷分析管理系统

DMS(Defect Management System):缺陷分析管理系统,通过对MAP图档实时自动采集、归类、数据分析统计,实现产品缺陷预防与控制、故障追溯真因,可与YMS系统结合,共同提高产品质量。

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WMS仓储管理系统
WMS(Warehouse Management System):仓储管理系统, 通过物理空间、库间、区域、储位、货架等,多维度多角度实现物料管控 通过料号、批次、箱号等多层次物料管控,来实现物料分层,种类划分 ERP、MES、OA、EPM、WCS等多种系统对接,实现账务实物流转统一 建立追溯体系,确保物料的有效性、准确性

解决的问题

区域/货架管理不清晰,货物存放混乱
仓库货物库存不合理
仓库作业效率低,查找货物时间长
仓库实物与账面管理混乱
信息记录和搬运都由人力完成,自动化程度低

我们的优势

完整的条码方案,实现数据流、实物流统一
通过入库、品质管理、库存操作、出库、权限等模块来实现仓库细致化管理
仓储硬件加持,如自动立库,来优化仓库存储结构
WMS具有较强的拓展性,支持跨系统对接,通过无纸化操作,来提高仓库运营效率
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RCM远程监控系统
RCM(Remote Control Monitor)—远程监控系统,可以实时集中监控管理所有设备生产状况,节省人力,提高生产效率。

解决的问题

集中展示、管控生产制造流程和业务操作
记录设备操作历史,便于问题追溯
对接EAP采集和反控设备
FAB内远程操控和自动代操

我们的优势

配置化上报和自动消警
自动学习记忆操作设备
开放式API
可实现RPA代操
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