ADS智能排程系统
我们的产品
ADS(Advance Dispatch Scheduling System)—先进排程系统，具备算力、算法的优势，拥有丰富的大数据处理经验， 可以配合工厂的需求提供客制化的排程派工系统。
解决的问题
预防FAB内跨站点的Q-time超时；
最大化产能利用率，通过算法预测和分配lot。
我们的优势
算法成熟且通过验证；
成熟大厂的know-how经验输出。
RTD实时派工系统
我们的产品
RTD(Real Time Dispatching)：实时派工系统，是一种实时的、高性能的调度解决方案， 能通过“下一站是什么(what's next)”,“下一站在哪里(where next)”的规则来分配在制品(WIP)，实现设备的负载平衡。
解决的问题
设备负载平衡，提高设备利用率，使得产能最大化；
实时派送，预约派送，节省人力，实现工厂无人化生产。
我们的优势
通过设备模板一键式配置，高效、精准、最优化派工；
规则灵活，模板化派送规则；
拥有半导体领域多行业的落地案例。
MES制造执行系统
我们的产品
MES（Manufacturing Execution System）：制造执行系统，通过流程控制管理产品整个生产过程，实现全流程信息追溯。解决的问题
生产工艺复杂；设备控制复杂；良率影响因素复杂;智能化程度要求高；生产控制精度要求高；产能瓶颈优化难。我们的优势
架构设计
采用分布式架构，稳定性好；支持晶圆级追溯；支持X86 Server，支持Linux/Windows，硬件配置要求宽松，易于维护；支持跨平台应用(如PDA应用)。功能设计
源于成熟大厂的行业know-how；源于全自动化工厂设计，适应工厂升级改造；具备更优的防病毒策略、轻量化IT维护。
EAP设备自动化系统
我们的产品
EAP（Equipment Automation Program）：设备自动化系统，实现设备数据自动采集与设备自动控制。系统支持SECS/GEM、HSMS、OPCUA、Modbus等主流通讯协议。
解决的问题
产品自动出入账；
设备运行参数及状态的管理；
帮助实现生产过程中特殊事件及场景的信息流转。
我们的优势
自研对接协议无第三方收费；
PLC级的对接集控；
万级的设备数量对接；
SECS/GEM全模块支撑；
特殊集控的客制化实施；
半导体6/8/12对接实施经验；
千级的设备类型对接；
对接设备厂商：LAM、AMAT、TEL、DNS、KLA-Tencor等。
RMS配方管理系统
我们的产品
RMS(Recipe Management System)—配方管理系统,通过平台管控实现recipe的集中式管理，并通过流程签核发布生效，实现Recipe ID, Body, Version等多维度管控。解决的问题
配方的生效和发布管理；实现配方自动上传下载，参数实时监控,配方信息自动比对；Golden Recipe的形成及管理。我们的优势
配方创建和设定通过复制黄金配方实现，防止人员设定出现错误；设备每次生产之前会对比设备和系统端配方，一致后方可开始生产；同群组的设备配方都是通过同一黄金配方复制得到，配方一致性好，易于管控；配方审核流程需要制程、工艺、良率等多部门签核，共同把关配方变更。
SPC统计过程控制系统
我们的产品
SPC(Statistical Process Control)基于BS架构的统计过程控制系统；
借助数理统计(正态分布)方法进行过程控制的工具，通过分析过程数据发现异常征兆并通过措施消除影响，达到优化制程、管控质量目的；
支持计数类型和计量类型SPC管制图；
可以对异常采取措施如发送报警邮件、Hold Lot、Hold设备等。
解决的问题
确定过程的统计控制界限，判断过程是否失控和过程是否有能力；
提供报警系统，及时监控过程的情况以防止废品的产生与流动；
减少对常规检验的依赖性，定时的观察以及系统的测量方法替代了大量的检测和验证工作；
降低报废率、提高生产效率、减少返工、降低成本。
我们的优势
大数据架构，相对于传统SPC支持海量数据上报、分析、处理；
支持每张管制图小于十万个点的展示；
支持每天百万级数据量上报；
千万级别的CPK月报计算。
YMS良率管理分析系统
我们的产品
YMS（Yield Management System）：良率管理分析系统，是一种通过可视化拖拽方式建立分析流程和模型， 多图表展示分析结果的良率分析工具，内置多个开箱即用的检验、分析、回归等统计分析模型。
解决的问题
帮助企业管理人员自动监控良率&品质、高效分析良率和异常，为品质改善提供保障；
依托大数据计算平台，使用多种数据分析方程进行数据挖掘和统计分析，通过在线分析方式提高处理和反馈效率，从若干小时到分钟级，帮助用户快速定位问题和决策参考；
通过与MES系统和EAP系统(连接生产设备)的集成，实时管控产品良率；
沉淀产品品质数据和分析模型，帮助企业积累品质管理模型和知识库。
我们的优势
大数据架构—GP：海量数据的存储，查询能力；Spark：海量数据的运算能力（分布式运算，内存中做join）；
自助可视化拖拽方式建立分析流程和模型；
内置多个开箱即用的检验、分析、回归等统计分析模型（基于R语言）；
提供CP Wafer mapping图和叠图分析，更直观的展示分析结果数据；
基于网页访问，不受客户端平台和用户数量限制；
支持半导体测试标准STDF和CSV等多种文件格式的数据源；
支持与半导体测试机的实时监控分析，支持与MES系统集成。
DMS缺陷分析管理系统
我们的产品
DMS(Defect Management System)：缺陷管理系统，是一种通过可视化拖拽方式建立分析流程与模型，图形化展示分析结果的工具。
解决的问题
通过产品缺陷自动监控，并开立异常单（或与其他系统集成），为人员后续追踪分析提供保障；
协助企业品管人员，宏观微观并进高效分析缺陷异常原因，为工艺改善提供决策参考；
通过高效运算与与分析，快速定位缺陷出现工艺站；透过算法分析找出聚集缺陷，提供优化方向；
依托大数据平台，连接YMS进行制程数据挖掘相关分析，帮助用户快速定位问题。
沉淀缺陷分析模型，帮助企业积累质量管理模型和知识库。
我们的优势
大数据架构-GP:海量数据存储，查询及横向扩充能力；
自助可视化拖拽方式建立分析流程和模型。可建立在线离线分析模型;并将用户分析手法，自动组建recipe；
丰富的可视化图表展示：Histogram/Trend/Plot/Pareto/Boxplot等多维度分析图表；
提供FT/CP/WAT/EDC/Klarf等Map与迭图分析, 直观的展示分析结果数据;
提供Lot/Wafer/Die/Sub-Die/Small-Die等方式叠图;
强大的数据处理能力：能够流畅展示千万级数据的叠图，确保大规模数据分析更加直观、精准
基于客户端访问，支持上亿笔数据查询展示;
支持与MES/YMS系统集成。
WMS仓储管理系统
我们的产品
WMS(Warehouse Management System)—仓储管理系统；
通过物理空间、库间、区域、储位、货架等，多维度多角度实现物料管控；
通过料号、批次、箱号等多层次物料管控，来实现物料分层，种类划分；
ERP、MES、OA、EPM、WCS等多种系统对接，实现账务实物流转统一；
建立追溯体系，确保物料的有效性、准确性。
解决的问题
区域/货架管理不清晰，货物存放混乱；
仓库货物库存不合理；
仓库作业效率低，查找货物时间长；
仓库实物与账面管理混乱；
信息记录和搬运都由人力完成，自动化程度低。
我们的优势
完整的条码方案，实现数据流、实物流统一；
通过入库、品质管理、库存操作、出库、权限等模块来实现仓库细致化管理；
仓储硬件加持，如自动立库，来优化仓库存储结构；
WMS具有较强的拓展性，支持跨系统对接，通过无纸化操作，来提高仓库运营效率。
RCM远程监控系统
我们的产品
RCM(Remote Control Monitor)—远程监控系统，可以实时集中监控管理所有设备生产状况，节省人力，提高生产效率。
解决的问题
集中展示、管控生产制造流程和业务操作；
记录设备操作历史，便于问题追溯；
对接EAP采集和反控设备；
FAB内远程操控和自动代操。
我们的优势
配置化上报和自动消警；
自动学习记忆操作设备；
开放式API；
可实现RPA代操。
