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赋能国家半导体智造
AMHS
CIM
ADS智能排程系统
我们的产品
ADS(Advance Dispatch Scheduling System)—先进排程系统,具备算力、算法的优势,拥有丰富的大数据处理经验, 可以配合工厂的需求提供客制化的排程派工系统。
解决的问题
预防FAB内跨站点的Q-time超时;
最大化产能利用率,通过算法预测和分配lot。
我们的优势
算法成熟且通过验证;
成熟大厂的know-how经验输出。
RTD实时派工系统
我们的产品
RTD(Real Time Dispatching):实时派工系统,是一种实时的、高性能的调度解决方案, 能通过“下一站是什么(what's next)”,“下一站在哪里(where next)”的规则来分配在制品(WIP),实现设备的负载平衡。
解决的问题
设备负载平衡,提高设备利用率,使得产能最大化;
实时派送,预约派送,节省人力,实现工厂无人化生产。
我们的优势
通过设备模板一键式配置,高效、精准、最优化派工;
规则灵活,模板化派送规则;
拥有半导体领域多行业的落地案例。
MES制造执行系统
我们的产品
MES(Manufacturing Execution System):制造执行系统,通过流程控制管理产品整个生产过程,实现全流程信息追溯。
解决的问题
生产工艺复杂;
设备控制复杂;
良率影响因素复杂;
智能化程度要求高;
生产控制精度要求高;
产能瓶颈优化难。
我们的优势
架构设计
采用分布式架构,稳定性好;
支持晶圆级追溯;
支持X86 Server,支持Linux/Windows,硬件配置要求宽松,易于维护;
支持跨平台应用(如PDA应用)。
功能设计
源于成熟大厂的行业know-how;
源于全自动化工厂设计,适应工厂升级改造;
具备更优的防病毒策略、轻量化IT维护。
EAP设备自动化系统
我们的产品
EAP(Equipment Automation Program):设备自动化系统,实现设备数据自动采集与设备自动控制。系统支持SECS/GEM、HSMS、OPCUA、Modbus等主流通讯协议。
解决的问题
产品自动出入账;
设备运行参数及状态的管理;
帮助实现生产过程中特殊事件及场景的信息流转。
我们的优势
自研对接协议无第三方收费;
PLC级的对接集控;
万级的设备数量对接;
SECS/GEM全模块支撑;
特殊集控的客制化实施;
半导体6/8/12对接实施经验;
千级的设备类型对接;
对接设备厂商:LAM、AMAT、TEL、DNS、KLA-Tencor等。
RMS配方管理系统
我们的产品
RMS(Recipe Management System)—配方管理系统,通过平台管控实现recipe的集中式管理,并通过流程签核发布生效,实现Recipe ID, Body, Version等多维度管控。
解决的问题
配方的生效和发布管理;
实现配方自动上传下载,参数实时监控,配方信息自动比对;
Golden Recipe的形成及管理。
我们的优势
配方创建和设定通过复制黄金配方实现,防止人员设定出现错误;
设备每次生产之前会对比设备和系统端配方,一致后方可开始生产;
同群组的设备配方都是通过同一黄金配方复制得到,配方一致性好,易于管控;
配方审核流程需要制程、工艺、良率等多部门签核,共同把关配方变更。
SPC统计过程控制系统
我们的产品
SPC(Statistical Process Control)基于BS架构的统计过程控制系统;
·借助数理统计(正态分布)方法进行过程控制的工具,通过分析过程数据发现异常征兆并通过措施消除影响,达到优化制程、管控质量目的;
支持计数类型和计量类型SPC管制图;
可以对异常采取措施如发送报警邮件、Hold Lot、Hold设备等。
解决的问题
确定过程的统计控制界限,判断过程是否失控和过程是否有能力;
提供报警系统,及时监控过程的情况以防止废品的产生与流动;
减少对常规检验的依赖性,定时的观察以及系统的测量方法替代了大量的检测和验证工作;
降低报废率、提高生产效率、减少返工、降低成本。
我们的优势
大数据架构,相对于传统SPC支持海量数据上报、分析、处理;
支持每张管制图小于十万个点的展示;
支持每天百万级数据量上报;
千万级别的CPK月报计算。
YMS良率管理分析系统
我们的产品
YMS(Yield Management System):良率管理分析系统,是一种通过可视化拖拽方式建立分析流程和模型, 多图表展示分析结果的良率分析工具,内置多个开箱即用的检验、分析、回归等统计分析模型。
解决的问题
帮助企业管理人员自动监控良率&品质、高效分析良率和异常,为品质改善提供保障;
依托大数据计算平台,使用多种数据分析方程进行数据挖掘和统计分析,通过在线分析方式提高处理和反馈效率,从若干小时到分钟级,帮助用户快速定位问题和决策参考;
通过与MES系统和EAP系统(连接生产设备)的集成,实时管控产品良率;
沉淀产品品质数据和分析模型,帮助企业积累品质管理模型和知识库。
我们的优势
大数据架构—GP:海量数据的存储,查询能力;Spark:海量数据的运算能力(分布式运算,内存中做join);
自助可视化拖拽方式建立分析流程和模型;
内置多个开箱即用的检验、分析、回归等统计分析模型(基于R语言);
提供CP Wafer mapping图和叠图分析,更直观的展示分析结果数据;
基于网页访问,不受客户端平台和用户数量限制;
支持半导体测试标准STDF和CSV等多种文件格式的数据源;
支持与半导体测试机的实时监控分析,支持与MES系统集成。
DMS缺陷分析管理系统
我们的产品
DMS(Defect Management System):缺陷分析管理系统,通过对MAP图档实时自动采集、归类、数据分析统计,实现产品缺陷预防与控制、故障追溯真因,可与YMS系统结合,共同提高产品质量。
WMS仓储管理系统
我们的产品
WMS(Warehouse Management System)—仓储管理系统;
通过物理空间、库间、区域、储位、货架等,多维度多角度实现物料管控;
通过料号、批次、箱号等多层次物料管控,来实现物料分层,种类划分;
ERP、MES、OA、EPM、WCS等多种系统对接,实现账务实物流转统一;
建立追溯体系,确保物料的有效性、准确性。
解决的问题
区域/货架管理不清晰,货物存放混乱;
仓库货物库存不合理;
仓库作业效率低,查找货物时间长;
仓库实物与账面管理混乱;
信息记录和搬运都由人力完成,自动化程度低。
我们的优势
完整的条码方案,实现数据流、实物流统一;
通过入库、品质管理、库存操作、出库、权限等模块来实现仓库细致化管理;
仓储硬件加持,如自动立库,来优化仓库存储结构;
WMS具有较强的拓展性,支持跨系统对接,通过无纸化操作,来提高仓库运营效率。
RCM远程监控系统
我们的产品
RCM(Remote Control Monitor)—远程监控系统,可以实时集中监控管理所有设备生产状况,节省人力,提高生产效率。
解决的问题
集中展示、管控生产制造流程和业务操作;
记录设备操作历史,便于问题追溯;
对接EAP采集和反控设备;
FAB内远程操控和自动代操。
我们的优势
配置化上报和自动消警;
自动学习记忆操作设备;
开放式API;
可实现RPA代操。